Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization - A W Czanderna - Livros - Springer Science+Business Media - 9780306458965 - 31 de outubro de 1998
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization 2002 edition

A W Czanderna

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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization 2002 edition

The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.

430 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de outubro de 1998
ISBN13 9780306458965
Editoras Springer Science+Business Media
Páginas 430
Dimensões 156 × 234 × 25 mm   ·   811 g
Editor Czanderna, Alvin W.
Editor Madey, Theodore E.
Editor Powell, Cedric J.

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