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Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

Choong-Un Kim

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352 pages

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	11 de setembro de 2011
Data do lançamento original	2016
ISBN13	9780081016961
Editoras	Elsevier Science & Technology
Páginas	352
Dimensões	494 g
Editor	Kim, Choong-Un (University of Texas at Arlington, USA)