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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

Peter Pichler

Preço

CA$ 510,38

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Data prevista de entrega 18 - 27 de jun

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This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	1 de novembro de 2012
ISBN13	9783709172049
Editoras	Springer Verlag GmbH
Páginas	554
Dimensões	178 × 254 × 30 mm · 1,01 kg
Idioma	English

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