Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design - Jens Lienig - Livros - Springer International Publishing AG - 9783319735573 - 7 de março de 2018
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Jens Lienig
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design 2018 edition

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The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.

159 pages, 95 Illustrations, color; 4 Illustrations, black and white; XIII, 159 p. 99 illus., 95 ill

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 7 de março de 2018
ISBN13 9783319735573
Editoras Springer International Publishing AG
Páginas 159
Dimensões 241 × 166 × 12 mm   ·   434 g
Idioma Alemão  

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