Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Livros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 1 de fevereiro de 2019
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Ireneusz Mrozek

Preço
Ft 19.619

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Data prevista de entrega 28 de nov - 8 de dez
Presentes de Natal podem ser trocados até 31 de janeiro

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Também disponível como:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 1 de fevereiro de 2019
ISBN13 9783030081980
Editoras Springer Nature Switzerland AG
Páginas 135
Dimensões 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Idioma Alemão  

Ver tudo de Ireneusz Mrozek ( por exemplo Paperback Book e Hardcover Book )