Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Livros - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 12 de agosto de 2016
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Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

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This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 12 de agosto de 2016
ISBN13 9781848219366
Editoras ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Páginas 320
Dimensões 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g
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