Conte aos seus amigos sobre este item:
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland) 2º edição
Preço
€ 110,99
Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)
Data prevista de entrega 12 - 21 de jan de 2026
Presentes de Natal podem ser trocados até 31 de janeiro
O que dizem nossos clientes:
Adicione à sua lista de desejos do iMusic
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)
Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.
350 pages
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 18 de maio de 2015 |
| ISBN13 | 9781783265282 |
| Editoras | Imperial College Press |
| Páginas | 432 |
| Dimensões | 160 × 238 × 23 mm · 802 g |
| Idioma | Inglês |