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Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection Fred Stevie
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CA$ 95,39
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Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection
Fred Stevie
150 pages
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 15 de setembro de 2015 |
| ISBN13 | 9781606505885 |
| Editoras | Momentum Press |
| Páginas | 150 |
| Dimensões | 152 × 229 × 16 mm · 390 g |
| Idioma | Inglês |
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