Conte aos seus amigos sobre este item:
Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B: Ugo Valdre Softcover reprint of the original 1st ed. 1988 edition
Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B:
Ugo Valdre
The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.
319 pages, 156 black & white illustrations, 3 colour illustrations
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 25 de novembro de 2012 |
| Data do lançamento original | 1989 |
| ISBN13 | 9781461595397 |
| Editoras | Springer-Verlag New York Inc. |
| Páginas | 319 |
| Dimensões | 170 × 244 × 17 mm · 530 g |
| Idioma | Inglês |
| Editor | Valdre, Ugo |
Presentes de Natal podem ser trocados até 31 de janeiro