Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering - Kai-yuan Cai - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375593 - 12 de outubro de 2012
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Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

Kai-yuan Cai

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Data prevista de entrega 21 - 29 de ago
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also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1


268 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 12 de outubro de 2012
ISBN13 9781461375593
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 268
Dimensões 155 × 235 × 15 mm   ·   412 g
Idioma English  

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