Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461360049 - 4 de outubro de 2012
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Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1995 edition

Frans P. M. Beenker

Preço
zł 735,90

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Data prevista de entrega 26 de mai - 5 de jun
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221 pages, black & white illustrations, bibliography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 4 de outubro de 2012
ISBN13 9781461360049
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 212
Dimensões 155 × 235 × 12 mm   ·   326 g