Hierarchical Modeling for Vlsi  Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461288190 - 26 de setembro de 2011
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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition

Debashis Bhattacharya

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Mex$ 2.130,60

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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition

160 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 26 de setembro de 2011
ISBN13 9781461288190
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 160
Dimensões 155 × 235 × 10 mm   ·   254 g
Idioma English  

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