Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems - Amith Singhee - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441966056 - 17 de setembro de 2010
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Amith Singhee
Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems 2010 edition

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This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs.

246 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 17 de setembro de 2010
ISBN13 9781441966056
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Gênero Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects
Páginas 246
Dimensões 155 × 235 × 15 mm   ·   539 g
Idioma Inglês  
Editor Rutenbar, Rob A.
Editor Singhee, Amith

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