Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization - Alvin W Czanderna - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441932990 - 6 de dezembro de 2010

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Alvin W Czanderna
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization Alvin W Czanderna 1st ed. Softcover of orig. ed. 1999 edition

Name: Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization
Price: 144.99 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Alvin W Czanderna

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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization

Alvin W Czanderna

1st ed. Softcover of orig. ed. 1999 edition

The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.

449 pages, 70 black & white illustrations, biography

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	6 de dezembro de 2010
ISBN13	9781441932990
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	430
Dimensões	152 × 229 × 23 mm · 625 g
Idioma	Inglês
Editor	Czanderna, Alvin W.
Editor	Madey, Theodore E.
Editor	Powell, Cedric J.