Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-signal and Rf Integrated Circuits: the System on Chip Approach - Materials, Circuits and Devices - - Livros - Institution of Engineering and Technolog - 9780863417450 - 30 de maio de 2008
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Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-signal and Rf Integrated Circuits: the System on Chip Approach - Materials, Circuits and Devices

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Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-signal and Rf Integrated Circuits: the System on Chip Approach - Materials, Circuits and Devices

This book provides a comprehensive discussion of automatic testing, diagnosis and tuning of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits, and systems in a single source. The book reports systematically the state of the arts and future research directions of those areas.

408 pages, Illustrations

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 30 de maio de 2008
ISBN13 9780863417450
Editoras Institution of Engineering and Technolog
Páginas 408
Dimensões 159 × 232 × 23 mm   ·   612 g
Editor Sun, Yichuang