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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Gianfranco Pacchioni

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SEK 2.669

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Data prevista de entrega 24 de jul - 5 de ago

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Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	31 de dezembro de 2000
ISBN13	9780792366867
Editoras	Springer
Páginas	624
Dimensões	153 × 234 × 20 mm · 875 g
Idioma	English
Editor	Griscom, David L.
Editor	Pacchioni, Gianfranco
Editor	Skuja, Linards

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