Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics -  - Livros - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780443297861 - 25 de novembro de 2024
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Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics

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Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics

232 pages

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
A ser lançado 25 de novembro de 2024
ISBN13 9780443297861
Editoras Elsevier Science Publishing Co Inc
Páginas 232
Dimensões 497 g   (Peso (estimado))
Editor de séries Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)
Editor de séries Hytch, Martin (Senior Scientist, French National Centre for Research (CNRS), Toulouse, France)